面陣背照式光纖光譜儀

產品摘要

◆背照式技術，采用背照式硅CCD探測芯片，避免了探測器表面氧化層對紫外光的吸收，深紫外量子化效率高達70%

◆低雜散技術，采用對稱交叉C-T光路設計，內部噴涂航天級高吸光材料，有效抑制雜散光形成

◆全譜段技術，采用專利EX閃耀光柵和漸變消高階濾光片技術，解決了寬譜段效率均衡與高階干擾的問題，最寬譜段覆蓋范圍達200-1100nm

產品應用

適用于需要弱光光譜檢測及紫外光譜分析的領域，如科學研究、熒光光譜分析、吸收光譜分析、深紫外光譜分析等