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    PH綜合表征分析探針臺

    我司根據客戶市場應用自主研發的這款結構小巧,功能實用,成本較低的簡易式探針臺,在滿足基本測試功能基礎上,去除了非必要得部件,該探針臺系統包含:顯微鏡位移裝置,探針測試系統,探針臺臺體,顯微成像系統,高精度樣品臺;
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    • 產品摘要

      在實際得科研生產中,由于樣品/晶圓(Wafer)得尺寸越來越大,用于測試的探針臺相當昂貴,我司根據客戶市場應用自主研發的這款結構小巧,功能實用,成本較低的簡易式探針臺,在滿足基本測試功能基礎上,去除了非必要得部件,該探針臺系統包含:顯微鏡位移裝置,探針測試系統,探針臺臺體,顯微成像系統,高精度樣品臺;    

      創譜儀器可以根據客戶應用搭建探針臺,以達到更好得使用效果和性價比。

      技術特點

      ◆兩邊半圓形探針架,可以放置最多6個探針座,且方便放置探針卡集成4路吸附開關,方便吸附

      ◆可用于12寸以內樣品測試XY行程115mmX115mm,Z軸調節10mm,360°旋轉粗調+士5°精調

      ◆1微米以上電極/PAD使用

      ◆可用于硅封裝的內部觀測和光譜特性分析,需要紅外光源和紅外攝像機

      ◆有效像素2000萬,有效像素1600 (H)*1200 (V) 可以拍照錄像,也可以連接電腦

      ◆HDMI輸出支持: 1280*1024 (默認)、1680X1050、1440*900

      ◆選用2X,5X,10X,20X,50X四種物鏡,工作距離分別是: 34.6mm,45mm,34mm;30.8mm,20.5mm,鼻輪支架帶五孔鼻輪

      ◆集成高精度高穩定性手動位移臺,XYZ行程50mm,精度lum

      ◆整體交叉滾珠導軌,超高精度,超高穩定性

      ◆模塊化設計,調節精度 3 微米,可調磁性吸附固定

      ◆最大電壓 1400V,阻抗 50 歐姆XYZ 軸行程分別是 13mm行程

      ◆位移放置:XYZR四軸調節XY行程115X115mm,Z軸調節10mm,360°旋轉粗調+士5°精調

      ◆整體位移精度lum,(根據客戶要求定制生產)

      ◆多被用于晶圓測試、LED測試、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、太陽能電池片測試、材料表面電阻率測試等;

      功能組件

      產品展示-淘寶_00

      規格參數

      型號

      PH-4

      PH-6

      PH-8

      PH-12

      電力需求

      220VC,50-60HZ

       

       

       

       

       

       

      尺寸

      4寸

      6寸

      8寸

      12寸

      行程

      XY行程115mm×115mm,Z軸升降10mm,360°粗調±5°精調

      移動精度

      1μm

      背電極測試功能

      可以引出背電極

      可以引出背電極

      可以引出背電極

      可以引出背電極

      真空吸附

      進口無油真空泵,7L/min

      樣品固定方式

      環形真空吸附

      定制模塊

      定制位移行程和精度、定制樣品盤材質/鍍金、定制背光等

       

      調

      XYZ行程

      13mm-13mm-13mm

      機械精度

      標配3μm,可升級(1μm、電動)

      漏電精度

      10pA(同軸線纜)、100fA(三同軸線纜)

      安裝方式

      可調磁力吸附/真空吸附/螺絲固定安裝

      接口形式

      香蕉插頭/鱷魚夾/同軸BNC/三同軸 TRB

       

       

      成像方式

      電子顯微鏡/雙目體式顯微鏡/金相顯微鏡/單筒金相顯微鏡/激光顯微鏡

      放大倍數

      7-200倍(最大可升級到1000倍)

      CCD像素

      2000W高清

      中心距離

      140mm,升降范圍270mm,總高度350mm

      顯微鏡移動

      XY行程25mm/50mm,分辨率1μm

      顯示器

      12寸/24寸高清顯示器,分辨率1μm

       

       

      可選附件

      加熱吸附卡盤

      氣浮隔振平臺

      鍍金卡盤

      光電流Mapping測試

      積分球測試附件(LIV)

      屏蔽箱

      射頻測試附件

      導入光源支架

      波長單色可調光纖光源

      顯微鏡調節手動/電動調節裝置

      激光切割顯微鏡

      升級光電測試系統


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