創譜儀器PH系列精密型探針臺系統順利驗收
PH系列高精度探針臺采用高分辨率金相顯微鏡,可以切換倍數,最高放大倍數1000倍;采用高穩定性底座,穩定扎針,且方便集成探針卡,采用1微米精度探針座,高精準扎針測試,高達100fA漏電精度(經過測試),是您科研半導體分析以及光電器件分析的理想選擇!