產品摘要
高低溫真空腔探針系統主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差;
因為晶圓在低溫大氣環境測試時,空氣中的水汽會凝結在晶圓上,會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉;
當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時,氧化現象會越來越明顯,并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差,物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換,因為熱脹冷縮現象,定位好的探針與器件電極間會有相對位移,這時需要針座的重新定位,探針座位于腔體外部,可以在不破壞真空度的同時調整探針達到理想位置進行測量。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置;
創譜儀器可以根據客戶應用搭建探針臺,以達到更好得使用效果和性價比!
技術參數及特點
★整體304不銹鋼材質,4英寸石英窗口;
★控溫范圍:-142-600℃(如果高溫300°以上需要另配水冷系統),控溫精準可達到±1℃,顯示精度1℃,溫度均勻性±3℃;
★極限真空度優于5Pa;
★基座氣浮平臺,平面度<0.1mm/㎡,振幅小于1.2um;
★探針位移重復定位精度2微米,分辨率3微米,單軸直線度±2微米;
★三同軸探針夾具,漏電精度100fA,陶瓷結構;
★4英寸紫銅材質樣品臺,平面度5微米;
★500W像素CCD顯微鏡,分辨率2微米,可以連接電腦;
★整體高集成,高穩定性,高漏電精度,高性價比!
規格參數
高低溫真空探針臺標準詳細配置清單 | ||
設備名稱 | 詳細配置清單本色 |
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真空腔體 CPPS-ZK-401 | ?直徑8英寸,高度7英寸的304材質真空室 |
1套 |
探針調整座 CPPS-ZK-402
| ?位移方向XYZ三軸,采用交叉滾柱導軌,產品定向性能穩定 |
4套 |
氣浮平臺 CPPS-ZK-403 | ?創譜光學隔振平臺專門設計的水平減震機構,隔振基礎采用二層氣囊隔離,空氣隔離器利用空氣阻尼技術在各個方向上都提供了優異的減振性能,減振器自身的自然振動頻率非常低,防止由瞬變干擾產生的搖擺 ?穩定輕松調節,穩定可靠結構十分緊湊 |
1套 |
顯微控制系統CPPS-ZK-404 | ?配CCD采用USB連接電腦,分辨率2um ,500萬像素 |
1套 |
真空獲得系統CPPS-ZK-405 | ?抽真空機械泵采用中韓合資型號TRP-36,9L/s抽速,自帶防返油閥門,KF25接口,KF25排氣口,配有油霧過濾器。極限真空度優于5Pa |
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配件 | 密封件1套,3微米針尖鎢鋼探針20支,探針臂陶瓷件2個等 |